什么是無錫視覺檢測(cè)中的CCD暗電流?
力泰科技資訊:CCD一直是無錫視覺檢測(cè)常用的一個(gè)電荷元器件,還有的設(shè)備就叫CCD視覺檢測(cè)設(shè)備,所以CCD對(duì)于現(xiàn)在的機(jī)器視覺來說是很重要的一項(xiàng)技術(shù)。CCD暗電流是由于內(nèi)部熱激勵(lì)載流子造成的,在其低幀頻工作的時(shí)候,可以幾秒或幾千秒的累積(曝光)時(shí)間來采集低亮度圖像,如果曝光時(shí)間較長(zhǎng),暗電流會(huì)在光電子形成之前將勢(shì)阱填滿熱電子。
由于視覺檢測(cè)設(shè)備晶格點(diǎn)陣的缺陷,不同像素的暗電流可能差別很大。在曝光時(shí)間較長(zhǎng)的圖像上,會(huì)產(chǎn)生一個(gè)星空狀的固定噪聲圖案,這種效應(yīng)是因?yàn)樯贁?shù)像素具有反常的較大暗電流,一般可以在紀(jì)錄后從圖像中減去,除非暗電流已經(jīng)使勢(shì)阱中的電子達(dá)到飽和。晶格點(diǎn)陣的缺陷產(chǎn)生不能收集光電子的死像素,由于電荷在移出芯片的途中要穿過像素,一個(gè)死像素就會(huì)導(dǎo)致一整列中的全部或部分像素?zé)o效;過度曝光會(huì)使過剩的光電子蔓延到相鄰的像素,導(dǎo)致圖像擴(kuò)散性模糊。服務(wù)熱線:400-9952050
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